Дифрактометр общего назначения ДРОН-7

Незаменим при решении широкого круга аналитических задач материаловедения, касающихся изучения внутреннего строения вещества. Предназначен для получения рентгенодифракционных спектров от поликристаллических объектов. Способен решать ряд задач монокристальной дифрактометрии, поскольку обеспечивает независимое перемещение относительно осей двух осей (2θ и θ).

Надежен и удобен в эксплуатации. От прежних моделей дифрактометров выгодно отличается современным дизайном, стабильным и компактным источником питания, модернизированным двухмодульным гониометорм и полностью автоматизированным управлением.

Базовая комплектация дифрактометра
Дополнительные опции
Программное обеспечение
Технические характеристики

Базовая комплектация дифрактометра:

• защитный кабинет с блокировкой дверей
• двухкружный гониометр
• высоковольтный источник питания рентгеновской трубки
• рентгеновская трубка БСВ-27 в защитном кожухе с программно-управляемой электромагнитной заслонкой
• сцинтилляционный блок детектирования
• держатель для порошковых образцов с вращением
• коллимационная система с комплектом щелей
• р-фильтр
• контрольный образец (поликристаллический кварц) для настройки прибора
• программа управления и сбора данных
• инструменты, запасные и сменные части

Дополнительные опции

	- Система быстрой регистрации с линейным позиционно-чувствительным стриповым детектором.
	- Высокотемпературная камера (до 1200оС) для in situ исследований фазовых превращений и химических реакций при изменении внешних условий.
	- Параболическое зеркало для геометрии параллельного пучка
	- Приставка ПГТМ для анализа текстур, для определения остаточных напряжений и ориентации кристаллов диаметром до 28 мм.  Обеспечивает два независимых программно-управляемых перемещения образца: - поворот (вращение) вокруг оси φ - от 0 до 360°, - наклон по оси χ - от 3 до +70°. В составе дифрактометра позволяет проводить сбор данных методом поворота Ω–φ и методом наклона χ–φ, а также сочетать сбор данных методом наклона χ–φ при фиксированном угле дифракции 2θ с методом 2θ–θ при фиксированном положении приводов (χ,φ) приставки. Это дает возможность определять ориентацию монокристалла, выводить в отражающее положение конкретный брэгговский рефлекс по измеренным координатам (χ,φ) и проводить 2θ–θ сканирование этого рефлекса для определения межплоскостного расстояния в данном направлении
	- Автосменщик образцов на 6 позиций
	- Твёрдотельный энергодисперсионный Si(Li) детектор с Пельтье-охлаждением
	- Держатели для монохроматоров на первичном и дифрагированном пучках
	- Кристаллы-монохроматоры различных типов (плоские, асимметричные, изогнутые, прорезные) и из различных материалов
	- Держатель монолитных образцов (без вращения, установка образцов толщиной до 10 мм и длиной до 100 мм.)
	- Держатель цилиндрических образцов (капилляров) диаметром 0,1-1,0 мм.
	- Базы порошковых дифракционных данных PDF-2/PDF-4
	- Кожух для рентгеновских трубок БСВ40-БСВ45 и их зарубежных аналогов
	- Рентгеновские трубки типа БСВ27, БСВ28, БСВ29 с указанным материалом анода (Ag, Mo, Cu, Co, Fe, Cr)
	- Бета-фильтры для монохроматизации различных излучений при установке точечного или позиционно-чувствительного детектора
	- Щели Соллера с расходимостью от 1.5 до 4 градусов для коллимации дифрагированного пучка при установке точечного или позиционно-чувствительного детектора
	- Автономная система охлаждения рефрижераторного типа (типа воздух-вода). Обеспечивает охлаждение рентгеновской трубки дистиллированной водой по замкнутому контуру, поддерживает температуру воды с точностью 0,1 град

Программное обеспечение

	Предварительная обработка DrWin • Обработка всей дифрактограммы либо выделенного фрагмента • Аппроксимация фона (полиномом либо пользовательской кривой) • Разделение K-дуплетов • Определение угловых положений • Апроксимация профилей рефлексов функции псевдо-Войта (для всего массива либо индивидуально для каждого пика) • Расчет линейных и интегральных интенсивностей рефлексов • Расчет ПШПВ рефлексов
	Количественный анализ Quan • Полный анализ многофазной смеси • Анализ n-компонентной системы • Анализ образца с известным массовым коэффициентом поглощения Метод внутреннего стандарта • Метод корундовых чисел • Метод добавок • Метод разбавления
	Расчет областей когерентного рассеяния и микродеформаций Size&Strain • Определение размеров кристаллитов и микродеформаций по методу моментов • Расчет инструментального фактора • Учет поглощения при использовании эталона другого состава
	Расчет теоретической дифрактограммы TheorPattern • Моделирование дифрактограмм многофазных смесей по структурным данным • Учет инструментального фактора • Учет текстуры и размеров кристаллитов индивидуально для каждой фазы • Сравнение модельной дифрактограммы с экспериментальной • Встроенный пакет математической кристаллографии
	Автоиндицирование Ind • Определение типа решетки Браве • Выбор элементарной ячейки • Расчет индексов дифракционных отражений • Визуализация результатов в виде штрих-диаграммы
	Метод Ритвельда Rietveld • Уточнение структуры однофазного/многофазного поликристаллического образца • Расчет полиномиального и физического фона • Уточнение индивидуальных коэффициентов U, V, W, X, Y для разных фаз и типов рефлексов • Уточнение параметров элементарной ячейки, атомных и тепловых параметров, заселенностей атомных позиций для каждой фазы • Выбор стратегии уточнения Управление условиями уточнения • Расчет пяти R-факторов
	Расчет макронапряжений MacroStress • Расчет углового положения максимума по центру тяжести или по вершине пика • Нахождение матрицы поправок • Вычисление линейных, плоских и объемных макронапряжений Расчет погрешностей напряжений
	Терморентгенография Thermo • 3D-визуализация измеренных данных в координатах «угол дифракции – интенсивность – температура» • Калибровка всего массива экспериментальных данных по внутреннему или внешнему стандарту • Уточнение параметров элементарной ячейки по всему массиву откалиброванных данных Определение точек фазовых переходов • Определение коэффициентов теплового расширения (КТР) в различных направлениях и тензоров термических деформаций Построение фигур КТР
	Качественный анализ и работа с базой порошковых данных Retrieve and Search-Match • Использование для качественного анализа базы порошковых данных PDF-2/PDF-4 Международного центра дифракционных данных (ICDD) • Автоматический или ручной алгоритм поиска< • Возможность создания пользовательских подбаз для упрощения поиска • Возможность добавления собственных стандартов в подбазы • Проведение качественного фазового анализа по различным критериям, базам (подбазам) • Анализ совпавших линий по положению и интенсивности • Расчет концентраций компонентов по методу корундовых чисел • Доступ к базе данных, в том числе поиск по выбранным критериям

Технические характеристики